Sauberkeiten und Oberflächenunvollkommenheiten auf optischen Flächen

Die Frage nach „Sauberkeiten“ auf optischen Oberflächen, heute korrekterweise Oberflächenunvollkommenheiten, in früheren Ausgaben der DIN ISO 10110-7 auch Oberflächenfehler genannt, führt oft zu Fragestellungen der richtigen Einschätzung und Beurteilung. Als übersetzte, neue DIN ISO-Normen liegen vor: DIN ISO 10110-7: 2018-05 und DIN ISO 14997:2018-05. Die wesentlichste Neuerung besteht in einer neuen Angabemöglichkeit zu der Sichtbarkeit der Oberflächenunvollkommenheiten zusätzlich zu der bestehenden Abmessungsspezifikation. Inhaltlich besteht sie in der Einbindung der Spezifikationen, wie sie in den Angaben nach „scratch/dig“ (amerikanischen Norm ANSI/ OEOSC OP1.002, bzw. der älteren Militärnorm MILPRF-13830B) auftreten.

Flyer/Programm

Der Kurs versetzt Sie in die Lage, folgende Fragen zu beantworten:

  • Angaben zu Oberflächenunvollkommenheiten zu verstehen und anzuwenden.
  • Die richtige Anwendung einzuschätzen und zu beurteilen.
  • Angaben der neuen DIN ISO 10110-7:2018 umzusetzen und mit ANSI /MILzu vergleichen.
  • Messungen von Oberflächenunvollkommenheiten nach neuer DIN ISO 14997:2018 zu verstehen.

Referent Dr. Manfred Thomae

Unser Referent Dr. Thomae war ehemals bei der Firma Leica Microsystems CMS GmbH, Wetzlar, im Leica Optic Center. Er ist Mitarbeiter und Projektleiter seit 2002 im DIN Arbeitsausschuss NA027-01-02 und seit 2008 im ISO TC 172 SC1, welche die Normen ISO 10110 erstellen und verausgaben.

Zielgruppe

Zielgruppe: Techniker, Meister, Ingenieure, die Zeichnungen für optische Komponenten erstellen, diese spezifizieren, einkaufen oder prüfen.

Termin und Veranstaltungsort

Beginn:
Ende:

Veranstaltungsort

Hotel Wetzlarer Hof
Obertorstr.3
35578 Wetzlar

Preis

Nicht-Mitglied: 190,00 €
Mitglied: 170,00 €
Alle Preise zzgl. 19% MwSt.

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