Sauberkeit auf Optiken: Neue DIN ISO 10110-7 und MIL scratch-dig

Die Frage nach „Sauberkeiten“ auf optischen Oberflächen, heute korrekterweise Oberflächenunvollkommenheiten, in früheren Ausgaben der DIN ISO 10110-7 auch Oberflächenfehler genannt, führt oft zu Fragestellungen der richtigen Einschätzung und Beurteilung.

Die zur Fragestellung gehörigen ISO-Normen liegen nun auch mit dem Ausgabedatum Mai 2018 als übersetzte, neue DIN ISO-Normen vor: DIN ISO 10110-7: 2018-05 und DIN ISO 14997:2018-05. Die wesentlichste Neuerung besteht in einer neuen Angabemöglichkeit zu der Sichtbarkeit der Oberflächenunvollkommenheiten zusätzlich zu der bestehenden Abmessungsspezifikation. Inhaltlich besteht sie in der Einbindung der Spezifikationen, wie sie in den Angaben nach „scratch/dig“ (amerikanischen Norm ANSI/OEOSC OP1.002, bzw. der älteren Militärnorm MIL-PRF-13830B) auftreten.

Die DIN ISO 10110-7 machte bisher Angaben zu der geometrischen Größe, während die ANSI/OEOSC OP1.002 bzw. die MIL-PRF-13830B sich auf die Sichtbarkeit oder die Helligkeit der Oberflächenunvollkommenheiten beziehen. Dies sind zwei unterschiedliche physikalische Eigenschaften, die nicht direkt miteinander vergleichbar sind. Oft entstehen auch Fragen bezüglich der Vergleichbarkeit oder der Auslegung. Jedoch wurde auf internationaler Ebene eine Anleitung verfasst, die versucht die Korrelationen aufzuzeigen: ISO/TR21477, die nun auch als Übersetzung: DIN SPEC 13477 vorliegt.
In dem Workshop werden die neue DIN ISO 10110-7:2018-7 und ihre Verbindung zur ANSI/OEOSC OP1.002 bzw. MIL-PRF-13830B vorgestellt und ihre Angaben erläutert. Es wird auch die neue Messnorm DIN ISO 14997:2018-05 besprochen.

Der Kurs versetzt Sie in die Lage:

  • Angaben zu Oberflächenunvollkommenheiten zu verstehen und anzuwenden.
  • Die richtige Anwendung einzuschätzen und zu beurteilen.
  • Angaben der neuen DIN ISO 10110-7:2018 umzusetzen und mit ANSI /MIL zu vergleichen.
  • Die Messung von Oberflächenunvollkommenheiten nach neuer DIN ISO 14997:2018 zu verstehen.

Weitere Informationen finden Sie in Kürze in unserem Flyer.

Zielgruppe

Techniker, Meister, Ingenieure, die Zeichnungen für optische Komponenten erstellen, diese spezifizieren, einkaufen oder prüfen.

Kursprogramm / Flyer

Termin und Veranstaltungsort

Beginn:
Ende:

Veranstaltungsort

Hotel Wetzlarer Hof
Obertorstraße 3
D-35578 Wetzlar

Seminarraum Siena-Colchester

Referenten

Dr. Manfred Thomae

Dr. Manfred Thomae arbeitete bei der Firma Leica Microsystems CMS GmbH, Wetzlar, im Leica Optic Center. Er ist seit 2002 Mitarbeiter und Projektleiter im DIN Arbeitsausschuss NA027-01-02 und seit 2008 im ISO TC 172 SC1, welche die Normen ISO 10110 erstellen und verausgaben.

Preis

Nicht-Mitglied: 190,00 €
Mitglied: 170,00 €
Alle Preise zzgl. 19% MwSt.