Photonics Hub Online Seminar: DIN EN ISO 25178-700 – Kalibrierung von optischen Topographiemessgeräten

Mit der Norm DIN EN ISO 25178-700 steht bald erstmalig eine finale Norm für die Kalibrierung, Justierung und Verifikation von optischen Topographie-Messgeräten wie Weißlichtinterferometern, Konfokalmikroskopen oder Fokusvariation zur Verfügung. Im Rahmen der Norm wird die Ermittlung von grundlegenden Eigenschaften von Messgeräten beschrieben. Der industrielle Anwender kann sich zukünftig auf die vorgegebenen Prozesse beziehen. Im Rahmen der Kalibrierung werden dabei „default cases“ vorgegeben, um den Anwender möglichst gut durch die Kalibrierung zu führen, trotzdem aber noch Möglichkeiten für eine eigenständige Gestaltung von Kalibrierprozessen zu eröffnen.

In Rahmen des Online-Seminars möchten wir allen Interessierten einen kompakten Einblick in die Grundbegriffe der flächenhaften Kalibrierung sowie die möglichen Prozesse zur Ermittlung der metrologischen Eigenschaften von optischen Topographie-Messgeräten geben.

Inhalt:

• Grundbegriffe zur Kalibrierung, Justierung und Verifizierung von flächenhaft arbeitenden Topographie-Messgeräten
• Ermittlung der metrologischen Eigenschaften
• Justierung und Interpretation der Ergebnisse

Rabatte erhalten Mitglieder von Optence und dem Kunststoff-Institut Lüdenscheid.

Referent: Prof. Dr.-Ing. habil. Matthias Eifler, M.B.A., Geschäftsführer Opti-Cal